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9256-HS2020-0: Advanced Microscopy
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9256-HS2020-0: Advanced Microscopy
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18. Sep 2020, 08:15 - 09:00: Introduction to Microscopy
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18. Sep 2020, 09:15 - 10:00: Fundamentals of Digital Image Processing
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25. Sep 2020, 08:15 - 09:00: Self-Training Session (1)
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Materialien zur Sitzung: 9
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25. Sep 2020, 09:15 - 10:00: Self-Training Session (2)
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02. Okt 2020, 08:15 - 09:00: Contrast, Magnification and Resolution - Laws of Physics for Microscopists (1)
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02. Okt 2020, 09:15 - 10:00: Contrast, Magnification and Resolution - Laws of Physics for Microscopists (2)
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09. Okt 2020, 08:15 - 09:00: Fluorescence Microscopy
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09. Okt 2020, 09:15 - 10:00: Live cell imaging: Colorful cells and the time factor
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16. Okt 2020, 08:15 - 09:00: Intravital Microscopy
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16. Okt 2020, 09:15 - 10:00: Total internal reflection fluorescence
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23. Okt 2020, 08:15 - 09:00: Laser scanning microscopy
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23. Okt 2020, 09:15 - 10:00: Laser scanning microscopy - specific applications
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30. Okt 2020, 08:15 - 09:00: Multiphoton-intravital microscopy
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30. Okt 2020, 09:15 - 10:00: Light Sheet Microscopy
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06. Nov 2020, 08:15 - 09:00: Super Resolution Imaging (1)
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06. Nov 2020, 09:15 - 10:00: Super Resolution Imaging (2)
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13. Nov 2020, 08:15 - 09:00: Atomic Force Microscopy
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13. Nov 2020, 09:15 - 10:00: Stereology
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20. Nov 2020, 08:15 - 09:00: Transmission Electron Microscopy (1)
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20. Nov 2020, 09:15 - 10:00: Transmission Electron Microscopy (2)
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27. Nov 2020, 08:15 - 09:00: To be determined (1)
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27. Nov 2020, 09:15 - 10:00: To be determined (2)
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04. Dez 2020, 08:15 - 09:00: Scanning Electron Microscopy (1)
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04. Dez 2020, 09:15 - 10:00: Scanning Electron Microscopy (2)
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11. Dez 2020, 08:15 - 09:00: Cryoelectron Microscopy & Serial Block Face SEM (1)
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11. Dez 2020, 09:15 - 10:00: Cryoelectron Microscopy & Serial Block Face SEM (2)
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18. Dez 2020, 08:15 - 09:00: Micro Computer Tomography
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Materialien zur Sitzung: 4
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18. Dez 2020, 09:15 - 10:00: Survey – Feedback from students
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22. Jan 2021, 08:30 - 11:00: Lecture Series on Advanced Microscopy
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Materialien zur Sitzung: 3
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28. Mai 2021, 09:00 - 11:30: Lecture Series on Advanced Microscopy
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